数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)

跳过高深的理论和数学公式，直击现实世界中的数字设计和测试工作。了解使用策略，满足对品质、可靠性及成本控制的业务需求，使你能在典型的高压力环境下按期完成任务。本书将帮助你优化设计，在工程上权衡某些资源（如硅片面积、工作频率和功率消耗）间的关系；在整体上实现的测试成本、面市时间和量产时间的平衡。此外，还将通过特定的自动化测试仿真生成工具提升你的效率。
书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：
●设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器
●系统集成和超大规模集成电路的设计问题
●AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计
●内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST
●虚拟测试套接字和隔离测试
●重用设计，包括重用向量和重用核心
●用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题
书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材料。通过为书中的每一部分列出流程图、工程图表和内容摘要，使得读者能够更快更容易地学习和查找。本书是与设计和测试工作相关的工程师和管理员所必备的资料书籍。