数字集成电路与嵌入内核系统的测试设计——电子与电气工程丛书（附光盘一张）
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内容提要：
本书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题，从技术有产品的投资成本上论述嵌入内核和soC的测试问题。
本书适合作为高等院校相关专业本科生、研究生的教材或参考书，也可供相关专业技术人员参考。 作者简介：
Alfred L. Crouch毕业于肯塔基大学，获电气工程学硕士学位（MSEE）。他曾先后供职于德州仪器、数字设备公司以及摩托罗公司，长期从事测试设计、测试自动化以及计算机辅助测试的工作。他在若干IEEE出版物、E-Timers以及专业杂志发表过大量文章，是IEEE会员。他拥有9个美国专利，主要是测试相关的发明专利，如逻辑内建自测试、存诸器内建自测试、扫描结构、扫描优化、低功耗测试以及全速扫描。
编辑推荐：
本书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题，从技术和产品的投资成本上论述嵌入内核和SoC的测试问题。
本书适合作为高等院校相关专业本科生、研究生的教材或参考书，也可供相关专业技术人员参考。 目录：
译者序
前言 本书导读 第1章 测试和可测性设计的基础知识 1.1 简介 1.2 测试动因 1.3 测试的定义 1.4 测试度量准则 1.5 故障建模 1.6 测试分类 1.7 制造过程中的测试 1.8 使用自动测试设备 1.9 测试和引脚的定时 1.10 制造过程中的测试程序的构成 1.11 推荐的参考读物 第2章 自动测试图形生成的基本原理 2.1 简介 2.2 选择ATPG的理由 2.3 自动测试图形生成过程 2.4 组合电路的固定故障介绍 2.5 延时故障介介绍 2.6 基于电流的故障介绍 2.7 可测性和故障分析方法 2.8 故障的屏蔽 2.9 固定故障等效 2.10 固定故障ATPG 2.11 跳变延时故障ATPG 2.12 路径延时故障的ATPG 2.13 基于电流故障ATPG 2.14 组合与时序电路的ATPG 2.15 向量模拟 2.16 ATPG向量 2.17 基于ATPG设计规则 2.18 选择ATPG工具 2.19 ATPG基本规则的小结 2.20 推荐的参考读物 第3章 扫描结构和技术 3.1 简介 3.2 功能测试 3.3 扫描效果电路 3.4 多路选择D（Mux-D）类型的扫描触发器 3.5 广泛应用的Mux-D扫描触发器 3.6 扫描移位寄存器或扫描链 3.7 扫描单元操作 3.8 扫描测试的排序 3.9 扫描测试的定时 3.10 可靠的扫描移位 3.11 可靠的扫描采样：无竞争向量 …… 第4章 存储器测试结构与技术 第5章 嵌入式内核测试的基本原理 术语表 随书光盘介绍 译者序：
集成电路发展到今天的系统芯片(System on Chip，SoC)时代，遇到的最为棘手的问题是SoC芯片的可测性问题和测试方法问题。根据现有的数字系统可测性设计理论和度量方法，数字系统的可控制性和可观测性与系统的电路结构和数据传输路径的长度有关，而它的测试复杂度(测试向量长度和宽度以及所能达到的测试出故障覆盖率)与系统内部存在的逻辑电路环路长度、环路数量以及环路嵌套级数成正比。系统内部环路长度越长，则测试复杂度越高，系统内部环路数量越多以及环路嵌套级数越多，则测试复杂度和难度也越大，并且它们之间的关系是指数性增长关系。.
SoC测试又称为微系统芯片测试，它是制造SoC的一部分，以确保..
前言：
本书主要为集成电路设计工程师和项目经理，特别是为测试和可测性设计(DFT)工程师和项目经理而著。本书也可为数字集成电路设计与测试的学生学习所用。本书的目标是介绍测试和可测性设计的基本概念，并从权衡工程预算(芯片面积、目标工作频率、功耗等)、商业驱动、成本要素得失的角度来探讨处理这些概念的应用。.
现在有许多优秀的测试和可测性设计教科书。然而，这些书大都是学术性的著作。自从我从事集成电路设计工作以来，需要为很多IC设计人员和初级DFTT~程师做测试和可测性设计方面的培训。我发现企业的教育与学生的教育有很大不同。一个在项目中需要学习和使用DFT技术的工程师，在学习的同时，还必须..
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